Microscopio metallografico Zeiss Axio Imager

introdurre

Programma semplice e funzionamento affidabile
Siete alla ricerca di un microscopio in grado di completare attività complesse, generare risultati di rilevamento affidabili ed è facile da usare? Così tipo intelligente per l'osservazione di microscopia luminosa polarizzataMicroscopio metallografico ZeissAxio Imager sarà la vostra scelta soddisfacente.

Diversi tipi di rack host sono disponibili per la selezione
La combinazione di host codificati, parzialmente elettrici o completamente elettrici può soddisfare le vostre esigenze personalizzate.

caratteristica

La tecnologia di riconoscimento automatico dei componenti è affidabile
La tecnologia Automatic Component Recognition (ACR) consente di utilizzare comodamente le impostazioni del microscopio. Tutti i telai principali elettrici possono riconoscere automaticamente l'obiettivo. Inoltre, la tecnologia ACR può anche riconoscere i moduli di luce riflessa nell'host elettrico della serie Z. Il sistema può registrare automaticamente le modifiche dei componenti.

Il design privo di vibrazioni garantisce immagini affidabili a lungo termine
Con l'aiuto diMicroscopio metallografico ZeissL'eccellente stabilità di Axio Imager consente misurazioni che possono cambiare nel tempo e osservazioni ad alto ingrandimento. Il giradischi obiettivo, la piattaforma di sollevamento dell'asse z e la fase sono progettati come unità compatta senza vibrazioni, indipendente dal resto del telaio principale. Questo cosiddetto design strutturale a celle stabili può creare condizioni di misura ideali per ottenere risultati di osservazione di altissima qualità.

Le funzioni estese rendono il funzionamento più confortevole
Semplificare programmi complessi. Controlla tutti i componenti elettrificati attraverso il touch screen sul mainframe o sulla workstation esterna.
Salvare le impostazioni personalizzate e ottenere un clic di ripristino. L'operazione di messa a fuoco è comoda e intuitiva - un pulsante touch progettato ergonomicamente.
In alternativa, il sistema di microscopia polarizzante può essere azionato attraverso un pannello di controllo che può essere completamente separato dal mainframe. Il metodo di osservazione e il gestore del percorso ottico possono selezionare automaticamente le impostazioni appropriate per generare risultati di osservazione riproducibili e affidabili.

metodo

Tecnica di osservazione della luce del cono: utilizzando un microscopio polarizzante può ottenere un'analisi veloce e affidabile della struttura del cristallo
Il microscopio polarizzato può catturare simultaneamente informazioni sull'immagine senza distorsione e sulla luce del cono. Utilizzando un tubo polarizzatore appositamente progettato per assistere il piano intermedio dell'immagine, oggetti, mirini e aperture variabili possono essere visibili simultaneamente. Regolando l'apertura variabile, il campo di osservazione della luce conica può essere ridotto a una dimensione delle particelle cristalline di 10 μ m. Il percorso ottico di Bertrand e' stato opportunamente cambiato. Questa funzione consente di passare rapidamente tra le diverse tecnologie, anche durante l'acquisizione di immagini o l'utilizzo di dispositivi video.

Prestazioni di misurazione coerenti
Con l'aiuto di una scala vernier che può essere ruotata di 360 ° e 0,1 °, e di uno stadio montato su asse sferico, è possibile ottenere facilmente misurazioni (ad esempio per misurare l'angolo di scissione dei minerali)
Misura ottica della differenza di percorso o della deformazione

Sono disponibili numerosi compensatori spettrali che coprono l'intervallo di misura da 0 a 30 λ.
Compensatore con differenza di percorso ottico fissa
Piastra d'onda completa λ
Piastra di quarto d'onda λ/4
Piastra d'onda completa λ, angolo rotabile+/-8 °

Compensatore con differenza di percorso ottico variabile
Compensatore ottico del cuneo 0-4 λ
Compensatore di misura
Compensatore di inclinazione Berek 0-5 λ
Compensatore di inclinazione Berek 0-30 λ

Axio Imager può anche fornire più metodi, come:
Tecnologia di microscopia termica
Utilizzare il software Zeiss AxioVision per l'analisi digitale (come analisi granulometrica o analisi granulometrica)